GB/T 5170.2-2008 in English

《GB/T 5170.2-2008电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备》由TC8（全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会）归口，主管部门为中国电器工业协会。
本部分规定了温度(含低温、高温和温度变化)试验设备的检验项目、检验用主要仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、数据处理结果与检验结果、检验周期等内容。本部分适用于对GB/T 2423.1《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温》、GB/T 2423.2《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温》和GB/T 2423.22《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化》所用试验设备的首次检验/验收检验和周期检验。 本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．２―１９９６。与ＧＢ／Ｔ５１７０．２―１９９６相比，技术内容主要有如下变化：―――标准名称“电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法　温度试验设备”更改为“电工电子产品环境试验设备检验方法　温度试验设备”；
―――所有用词“检定”更改为“检验”；
―――增加了“术语和定义”一章；
―――增加了“温度波动度”检验项目；
―――增加了“温度均匀度”检验项目；
―――增加了“每５ｍｉｎ温度平均变化速率”检验项目；
―――增加了“温度指示误差”检验项目；
―――增加了“温度过冲量”检验项目；
―――增加了“温度过冲恢复时间”检验项目；
―――增加了“噪声”检验项目；
―――删除了“相对湿度”检验项目；
―――在“检验用主要仪器及要求”一章中，给出了温度测量系统其测量结果的扩展不确定度（k＝２）的要求
―――增加了“检验负载”一章；
―――修改了“温度变化速率”的计算方法；
―――测量数据记录改为每一分钟记录一次数据；
―――删除了“检定过程中的处理”部分；
―――附录Ａ“测量记录表格示例”更改为“检验项目的选择”；
―――删除了附录Ｂ “温度波动度、温度均匀度检定方法”。

Scope

This part of GB/T 5170 specifies the inspection items of temperature (including low temperature, high temperature and temperature change) test equipment, main instruments and requirements for inspection, inspection load, inspection conditions, inspection methods, data processing results and inspection results, inspection cycle and so on. This part is applicable to GB/T 2423.1 "Environmental Testing for Electrical and Electronic Products Part 2: Test Method Test A: Low Temperature", GB/T 2423.2 "Environmental Testing for Electrical and Electronic Products Part 2: Test Method Test B: High Temperature" and GB/T 2423.2 "Environmental Testing for Electrical and Electronic Products Part 2: Test Method Test B: High Temperature" /T 2423.22 "Environmental Testing of Electrical and Electronic Products Part 2: Test Method Test N: Temperature Change" The initial inspection/acceptance inspection and periodic inspection of the test equipment used. This section also applies to the inspection of similar test equipment.